Phase12 熱阻測(cè)試儀產(chǎn)自美國(guó) Analysis Tech(Anatech)公司，符合美軍標(biāo)和 JEDEC 標(biāo)準(zhǔn).
Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士頓北部，是電子封裝器件可靠性測(cè)試的國(guó)際設(shè)計(jì)，制造公司。創(chuàng)始人 John W.Sofia 是美國(guó)麻省理工的博士，并且是提出焊點(diǎn)可靠性,熱阻分析和熱導(dǎo)率理論的專家. 發(fā)表了很多關(guān)于熱阻測(cè)試于分析，熱導(dǎo)率及焊點(diǎn)可靠性方面的論文. Analysis Tech Inc.在美國(guó)有獨(dú)立的實(shí)驗(yàn)室提供技術(shù)支持. 在全世界熱阻測(cè)試儀這套設(shè)備有幾百家知名客戶.
主要用于測(cè)試二極管，三極管，線形調(diào)壓器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ,IGBT，IC 等分立功率器件的熱阻測(cè)試及分析。
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